计算机辅助霍尔测量系统
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- 2021-04-27
- 简介
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霍尔测量是研究半导体材料性质的重要实验方法 ,文中设计、建立了一套计算机辅助测量系统 ,它能自动采集和处理数据。文中论述了该系统的组织构造、工作原理和软件实现。
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