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基于多CIS的PCB基板缺陷自动光学检测系统

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  • 2021-04-27
  • 简介
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提出一种利用多CIS实现的检测PCB基板缺陷的新方法。采用多条CIS并行工作,并利用EZ-USBFX2作为USB接口控制器,高速地将CIS采集的图像数据向主机传送,应用程序再将得到的PCB图像数据进行处理,从而检测出PCB基板的缺陷。

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