三波长光干涉法测量磁盘/磁头纳米级气膜厚度
100 积分
50
评分
4.7 积分- 详情
- 2021-04-28
- 简介
pdf
- 661KB
- 页数 4P
- 阅读 61
- 下载 20
给出三波长光干涉测量纳米级薄膜厚度的方法。通过对某负压磁头/玻璃盘空气薄膜的测试表明:三波长光干涉法具有精度高、容易实施等优点,能够满足磁盘/磁头润滑副设计、制造及研究的需要。
对不起，您暂无在线预览权限，如需浏览请
立即登录热门商品
相关推荐
三波长光干涉法测量磁盘/磁头纳米级气膜厚度 661KB
纳米级精度分光路双频干涉度量系统的设计 490KB
共光路双频外差干涉法测量模拟磁头磁盘静态间隙 646KB
散斑干涉测量镀膜透明介质平板厚度的实验研究 368KB
激光干涉仪测量方法 1.8MB
劈尖干涉法测量磁致伸缩系数 192KB
桥梁振动的激光干涉测量方法 225KB
线胀系数的视频在线光干涉法测量研究 194KB
光的干涉法测量金属细丝直径的研究 213KB
劈尖干涉法测量磁致伸缩系数 192KB