应用FLRDS技术测量多模光纤的弯曲损耗
100 积分
50
评分
4.3 积分- 详情
- 2021-04-28
- 简介
pdf
- 163KB
- 页数 3P
- 阅读 102
- 下载 35
光纤环形腔衰荡光谱技术是一种新颖的吸收光谱技术,具有灵敏度高,信噪比强等优点。利用这种技术可以实现环形腔内光损耗的测量。对多模光纤的弯曲损耗进行了定量测量和分析。
对不起，您暂无在线预览权限，如需浏览请
立即登录热门商品
相关推荐
应用FLRDS技术测量多模光纤的弯曲损耗 163KB
多模光纤弯曲损耗特性的测量与分析 339KB
利用光纤环腔衰荡技术测量单模光纤的弯曲损耗 769KB
单模光纤的弯曲损耗分析 839KB
光纤的弯曲损耗、抗弯曲光纤标准G.657及试验 4.6MB
多模光纤 (2) 429KB
多模光纤 68KB
超贝_OM2_OM3_OM4弯曲不敏感多模光纤 1.5MB
基于多模光纤的动态光散射粒径测量研究 370KB
单模光纤与多模光纤的对比 13KB