首页 > 工程造价 >造价学术 >造价其他资料 > ICF中子探测器与前端电子学配接技术分析
ICF中子探测器与前端电子学配接技术分析

ICF中子探测器与前端电子学配接技术分析

原价 100 积分

促销价 50 评分 4.5 积分

*温馨提示:该数据为用户自主上传分享,如有侵权请 举报联系客服处理。
报错
  • 详情
  • 2021-04-28
  • 简介
  • pdf
  • 856KB
  • 页数 5P
  • 阅读 79
  • 下载 25
ICF实验中,为避免中子辐射损伤电子学设备,电子学设备与探测器之间需有一定距离,因此必须考虑长距离传输对信号的影响。实验中X射线产生的信号高达50 V,次级中子产生的信号低于1V,而两者之间的时间间隔仅为百ns量级。因此由大幅度脉冲信号造成的信号反射、饱和、过冲,都可能会影响中子信号的测量。针对ICF实验中信号的长距离传输和接收问题,通过深入分析,确定了传输线和前端电子学各器件的选型。实验研究结果表明:该接收电路能对信号进行较好的接收,确保大幅度信号不会影响次级中子信号的测量。

对不起,您暂无在线预览权限,如需浏览请

立即登录