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X射线连续谱法诊断铝丝阵Z箍缩等离子体温度

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  • 2021-04-28
  • 简介
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用球面石英弯晶衍射、CCD记录测量铝丝阵Z箍缩中的时间积分X射线连续能谱,并由连续谱斜率拟合出电子温度.该法获得的拟合数据点多,能有效筛除含线辐射的数据,减弱线辐射的影响,求得更可靠的等离子体核心高温区的温度.以发次09076为例,核心温度约为250eV,在95%的置信度范围里,其变化范围约241—258eV.

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