X射线连续谱法诊断铝丝阵Z箍缩等离子体温度
100 积分
50
评分
4.7 积分- 详情
- 2021-04-28
- 简介
pdf
- 218KB
- 页数 4P
- 阅读 80
- 下载 32
用球面石英弯晶衍射、CCD记录测量铝丝阵Z箍缩中的时间积分X射线连续能谱,并由连续谱斜率拟合出电子温度.该法获得的拟合数据点多,能有效筛除含线辐射的数据,减弱线辐射的影响,求得更可靠的等离子体核心高温区的温度.以发次09076为例,核心温度约为250eV,在95%的置信度范围里,其变化范围约241—258eV.
对不起，您暂无在线预览权限，如需浏览请
立即登录热门商品
相关推荐
X射线连续谱法诊断铝丝阵Z箍缩等离子体温度 218KB
两幅差分干涉诊断铝丝阵Z箍缩等离子体 484KB
铝丝阵Z箍缩电子温度径向轮廓研究 399KB
铝丝阵Z箍缩非平衡辐射 1.1MB
铝丝阵等离子体K壳层辐射区域测量 1.2MB
铝丝阵Z箍缩辐射形成特征实验研究 382KB
铝丝阵Z箍缩辐射产生机理初步研究 651KB
等离子体喷射轴心铝丝的磁流体动力学模拟 84KB
等离子体喷射轴心铝丝的磁流体动力学模拟 304KB