首页 > 工程造价 >造价学术 >造价其他资料 > 高端磁盘阵列可靠性测试建模方法研究
高端磁盘阵列可靠性测试建模方法研究

高端磁盘阵列可靠性测试建模方法研究

原价 100 积分

促销价 50 评分 4.5 积分

*温馨提示:该数据为用户自主上传分享,如有侵权请 举报联系客服处理。
报错
  • 详情
  • 2021-04-28
  • 简介
  • pdf
  • 1.3MB
  • 页数 4P
  • 阅读 77
  • 下载 22
阐述了衡量高端磁盘阵列可靠性的重要指标MTTDL,通过分析两种造成磁盘错误的原因,建模计算了各种RAID级别的MTTDL,设计了磁盘读出错率的测试方案,实现了基于分布式的磁盘读出错率测试程序。

对不起,您暂无在线预览权限,如需浏览请

立即登录