UV-Vis-NIR反射光谱表征粉体材料的能隙值的方法
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- 2021-04-28
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运用涂膜法和UV-Vis-NIR反射光谱,提出了表征粉体材料能隙值的新方法。结果表明,当Vcoloed/VTiO2(有色粉体与钛白的体积比)小于5%时,通过反射光谱可得到表征材料在该波段吸波特性的Kubellka-Munk函数F,即F=(1-R∞)2/2R∞(R∞是涂层无限厚时的反射率)。将Kubellka-Munk函数F对波长(以电子伏特表示)作图,就可以得到表征材料能隙值的曲线。该方法操作简单,节省原料,同时由于去除了有色粉体粒子间的相互干扰,在实际研究中具有普遍性。
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