痕量气体光谱法检测用半导体激光器温度控制电路
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- 2021-04-28
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本文介绍一种半导体激光器温度控制电路及其辅助调试电路(含软件),电路采用Peltier模块集成温度控制器MAX1978,温控精度约为0．02℃,该电路用于痕量气体光谱法检测系统。
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