- 详情
- 2021-04-28
- 简介
pdf
- 1.8MB
- 页数 5P
- 阅读 103
- 下载 27
随着集成电路设计技术及工艺技术的发展,元器件的工作频率越来越高,对微电子封装技术的要求也越来越严格。目前,BGA与MCM作为逐渐普及的封装形式,其基板上都有大量的过孔,在高频时必须考虑过孔寄生参数对芯片电性能的影响,特别是针对于射频电子和高速数字IC。文章以CBGA基板过孔为例,通过有限元方法初步探讨了不同参数的过孔其寄生参数RLC的变化趋势。并以其中一组寄生参数分析了对某理想放大器电路输出波形造成的过冲与畸变等影响。
对不起,您暂无在线预览权限,如需浏览请
立即登录热门商品
相关推荐
集成电路封装基板过孔电学仿真技术研究 1.8MB
清洗在集成电路封装过程中对静态电源电流(IDDSB)的影响 71KB
柔性电路封装基板项目可行性研究报告 4.4MB
集成电路封装工艺生产管理系统的设计与实现 1.7MB
基于抗静电设计的集成电路可靠性技术研究 2.8MB
86封装工艺属于集成电路制造工艺的 112KB
集成电路芯片封装第1讲 1.6MB