基于某型电子设备的装备测试性设计研究
- 详情
- 2021-04-27
- 简介
- 109KB
- 页数 3P
- 阅读 65
- 下载 21
主要分析研究了电子装备全寿命测试性工作任务和设计流程,以某型电子设备为例,详细介绍了设备级和电路板级测试接口、引脚定义设计,以及承载测试协议设计实现。
对不起,您暂无在线预览权限,如需浏览请
立即登录热门商品
相关推荐
基于某型电子设备的装备测试性设计研究 109KB
电子设备的可靠性设计研究 520KB
电子设备热可靠性设计研究 1.3MB
电子设备机柜减振设计研究综述 198KB
关于电子设备可靠性的研究与设计 194KB
基于灰色理论的电子设备寿命预测研究 539KB
一种电子设备自动化测试系统的设计与实现 2.4MB
某电子设备热控系统的设计 784KB
某电子设备热设计分析与工程设计 585KB
电子设备强迫空气冷却器设计研究 219KB