原位反射率测量在制备金刚石X光窗口上的应用
- 详情
- 2021-04-27
- 简介
- 159KB
- 页数 4P
- 阅读 78
- 下载 25
通过反射率的原位测量和曲线拟合,研究了薄膜的生长过程并实时确定了它的光学性质。研究的结果与扫描电子显微镜(SEM)照片、X射线衍射(XRD)和α-step表面轮廓等非原位测试的结果符合良好。应用该研究成果,成功地制备了一种通光直径为4—8mm的无依托超薄金刚石X光高透射率窗口。样品测试完毕后均完好无损,显示了其低吸收和抗高辐射的良好特性。
对不起,您暂无在线预览权限,如需浏览请
立即登录热门商品
相关推荐
原位反射率测量在制备金刚石X光窗口上的应用 159KB
CVD金刚石薄膜窗口试样制备及力学性能测量 450KB
高功率MPCVD金刚石膜透波窗口材料制备研究 299KB
工业金刚石在建筑工程上的应用 116KB
工业金刚石在建筑工程上的应用 116KB
用相机测量金刚石膜透光性的研究 272KB
纺纱钢领的金刚石抛光 409KB
金刚石-硫化锌复合窗口的弹性应变研究 144KB
ZnS/金刚石薄膜复合窗口材料的研究现状 462KB
关于薄壁金刚石钻头金刚石浓度的设计问题 154KB