充电参数对PTFE多孔膜电荷稳定性的影响
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- 2021-04-28
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利用表面电位衰减测量和热刺激放电电流谱(TSD)分析,研究了PTFE(Polytetrafluoroethylene)多孔膜驻极体中的沉积电荷稳定性与充电条件的关系。结果显示,沉积电荷的稳定性与充电参数有关。本文对这一现象进行了唯象的解释。同时研究了此多孔材料在不同充电参数条件下捕获电荷能阱分布的变化,初步描述其电荷捕获输运规律。
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