首页 > 工程造价 >造价学术 >造价其他资料 > X-射线荧光光谱法测定石灰石粉中的SiO_2含量
X-射线荧光光谱法测定石灰石粉中的SiO_2含量

X-射线荧光光谱法测定石灰石粉中的SiO_2含量

原价 100 积分

促销价 50 评分 4.5 积分

*温馨提示:该数据为用户自主上传分享,如有侵权请 举报联系客服处理。
报错
  • 详情
  • 2021-08-07
  • 简介
  • pdf
  • 48KB
  • 页数 1P
  • 阅读 86
  • 下载 29
本法采用压片的方式将样品压制成片,通过X-射线荧光光谱仪来测定石灰石粉中的SiO2含量,本方法操作简便,分析周期短,结果符合允许误差要求,可用于生产检验。

对不起,您暂无在线预览权限,如需浏览请

立即登录