基于频率响应法的双CPU架构变压器绕组变形测试仪设计
100 积分
50
评分
4.7 积分- 详情
- 2021-09-10
- 简介
pdf
- 416KB
- 页数 未知
- 阅读 108
- 下载 22
针对日益增多的变压器绕组变形故障,设计了一种以高性能DSP芯片TMS320F2812及ARMRCortexTM-M3芯片STM320F103为核心的基于频率响应法的变压器绕组变形测试仪。详细介绍了系统硬件设计方案及软件编程思想。DSP模块负责高速数据采集与运算。ARM模块通过SPI总线与DSP通信,实现测试仪的数据管理、用户界面以及联机通讯。采用数字频率合成技术DDS对待测变压器绕组进行扫频测量。系统采用软件滤波和硬件同步交流采样技术减小测量误差。能够在不对变压器进行吊罩、拆装的情况下进行绕组变形测试,显示高、低压三相绕组频率响应曲线及相关系数R。仿真测试结果表明该装置能够满足变压器绕组变形的测试要求。
对不起，您暂无在线预览权限，如需浏览请
立即登录热门商品
poppop2***
擅长:
装饰 市政 电气
- 4.5
服务
- 5
商品
- 155
人气
相关推荐
基于频率响应法的双CPU架构变压器绕组变形测试仪设计 416KB
频率响应法在线监测变压器绕组变形 1.6MB
变压器绕组变形测试方法及应用 1.6MB
变压器绕组变形检测方法研究 1.9MB
变压器绕组变形检测方法研究 106KB
变压器绕组变形试验研究 160KB
变压器绕组变形的检测方法 808KB
判断变压器绕组变形的简单方法 3.4MB
电力变压器绕组变形试验频响法应用 212KB
变压器绕组变形试验 1.6MB