一种集成电路老化测试设备的嵌入式系统设计
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- 2021-09-10
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针对传统集成电路老化过程耗时长,老化成本高的问题,提出了老化中测试的研制方案。老化测试将器件的测试与老化过程同时进行,从而节约时间与成本。为了提高老化测试设备的通用性和性能指标,将嵌入式系统引用到老化测试设备领域,通过移植嵌入式Linux系统,开发驱动实现通信接口协议,编写老化测试代码,实现了芯片老化过程中的流程控制及数据通信功能。经实际电路仿真验证,能够实现64路数字信号通道芯片的老化测试。
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